iR-2反射率测量仪

可精确测量目前分光光度计无法测量的微小、超薄、弧面样品的光谱反射率，不会与样品背面的反射光产生干涉；是测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统；实现非破坏性测量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 标准。

iR-2反射率测量仪：

1消除背面反射光

采用特殊光学系统，消除背面反射光。 不必进行背面的防反射处理，可正确测定弧度镜片表面的反射率。

2可测定微小区域的反射率（消除曲面反射测试带来的误差）


用物镜对焦于样本表面的微小光斑（ø60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。

3测定时间短


由于使用了Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、高重复性的测定。

4支持XY色度图、L*a*b*测定


可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色；比较色差。更真实反映材料主观感受色彩。

5综合对比反射均匀度测量

提供6组数据对比，可在测试区域内任意取点测量，分析镜片各部分反射均匀性。